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        v|tome|x s三維計算機斷層掃描

        2016-01-12

        phoenix v|tome|x s 是一個多功能的高分辨率係統,用於二維X射線檢測和三維計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct))以及三維測量。 為達到高度的靈活性,phoenix v|tome|x s可從二者中選擇裝備:180千伏/ 15 W高功率nanofocus X射線管和240千伏/ 320瓦的微焦點管. 由於這種*的組合,該係統是一個非常有效且可靠的工具,廣泛應用於對低吸收材料的*分辨率掃描以及對高吸收物體的三維分析。

        主要功能

        • *的開放式納米聚焦-微米聚焦雙管組合是可能的(180千伏/ 15 W高功率納米聚焦X射線管和240千伏/ 320瓦的微米聚焦管)
        • 高達10倍的增加的燈絲壽命,通過長壽命的|燈絲(可選)確保了長期穩定性和*係統效率
        • 通過菱形|窗口(可選)以同樣的高圖像質量水平進行快達2倍的數據采集
        • 通過高動態溫度穩定的GE DXR數字探測器獲取的30 FPS(幀每秒)(可選)的快速CT采集和清晰的活動影像

        顧客利益:

        • 三維測量包用於空間測量,具有*精度,再現性和親和力
        • 在少於1小時之內自動生成*檢測記錄是可能的
        • 使用的軟件模塊以確保zui高的CT質量且便於使用,例如
          • 通過點擊並測量|CT 用 datos|x 2.0進行高精度可重現的三維測量: 全自動化執行的CT掃描,重建和分析過程
          • 通過 VELO | CT在幾秒鍾或幾分鍾內(取決於體積大小)完成更快的三維CT重建

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